扫码咨询我们:
0755-82895217
产品
新闻
PID 效应(Potential Induced Degradation)又称电势诱导衰减，是电池组件封装材料和其上表面及下表面的材料，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁移，而造成组件性能衰减的现象。本系统通过长期监测其漏电流的情况，确保组件在达到一定的性能衰减后提出报警，测试出组件的使用寿命水平，使其能保证组网的安全运行。PID的测试标准是根据IEC62804 光伏组件性能测试标准、IEC61215、IEC61730光伏组件安全测试标准结合而成。
技术参数
|
型号 |
ZC1608 |
|
|
系统配置 |
1台主控计算机，1~8台多路电势差诱导功衰测试仪 (ZC1608)(可选配) |
|
| 大可接入路数 |
64路，少选配一台测试机(ZC1608)为8路，多选配8台测试机(ZC1608，ZC1616，ZC1624，ZC1632)为64路。 |
|
|
老化试验时间 |
0000:00:00~9999:59:59h，可任意设定，试验时间结束，自动切断输出。 |
|
| 实时监控功能 |
8~64路同时监测，自动记录并实时显示试验参数。 |
|
|
故障警告 |
屏幕上状态栏显示故障原因，漏电流报警。 |
|
|
人机界面 |
外置计算机，独立显示器 |
|
|
仪器接口 |
LAN |
|
|
直流电压 |
±2000V |
|
|
电压分辨率 |
1V |
|
|
大限额电流 |
1mA/ 通道 |
|
|
漏电检解析度及测量范围 |
0.01uA~1uA |
|
|
保护功能 |
过流保护、过压保护、短路保护 |
|
微信分享
