简要介绍

       PID 效应(Potential Induced Degradation)又称电势诱导衰减，是电池组件封装材料和其上表面及下表面的材料，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁移，而造成组件性能衰减的现象。本系统通过长期监测其漏电流的情况，确保组件在达到一定的性能衰减后提出报警，测试出组件的使用寿命水平，使其能保证组网的安全运行。PID的测试标准是根据IEC62804 光伏组件性能测试标准、IEC61215、IEC61730光伏组件安全测试标准结合而成。