封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

● 高速测量2ms
● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

SMD测试治具9699

用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下

SMD测试治具9677

用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm

SMD测试治具9263

直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm

镊形探头L2001

线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）

测试治具9261

电缆连接型, DC ～ 5 MHz, 1m长

4端子测试探头 9140

DC～100kHz, 1m长