使用4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试(I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试(C-V曲线测试)和超快脉冲I-V曲线测量。

　　参数查看，快速清晰。

　　推进大胆发现从未如此容易。4200A-SCS参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达50％，从而实现无与伦比的测量和分析能力。此外，嵌入式测量专业知识提供无与伦比的测试指导，并让您对终结果充满信息。

　　特点

　　用于DC IV、CV和脉冲IV测量类型的高级测量硬件

　　立即使用Clarius软件中所含的数百种用户可修改应用程序测试开始测试

　　自动实时参数提取、数据绘图、分析函数

　　准确的C-V表征

　　使用吉时利新的电容-电压单元(CVU)4215-CVU测量一位数飞法。通过将1 V AC电源集成到吉时利行业领先的CVU架构中，4215-CVU可在1 kHz至10 MHz的频率下进行低噪声电容测量。

　　特点

　　同类产品中一款能够驱动1 V AC电源电压的CV表

　　1 kHz频率，分辨率从1 kHz到10 MHz

　　测量电容、电导和导纳

　　使用4200A-CVIV多路开关多可测量四个通道

　　测量、切换、重复。

　　4200A-CVIV多通道切换模块自动在I-V和C-V测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。与竞争产品不同，四通道4200A-CVIV显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。

　　特点

　　无需重新布线即可将C-V测量移动到任何设备终端

　　用户可配置低电流功能

　　个性化输出通道名称

　　查看实时测试状态

　　稳定的低电流测量，适用于I-V检定

　　使用4201-SMU和4211-SMU模块，您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS有四种型号的源测量单位(SMU)可供选择，可通过定制满足您所有的I-V测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley可确保您获得准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。

　　特点

　　不必将仪器送回工厂即可增加SMU

　　进行飞安测量

　　多达9个SMU通道

　　针对长电缆或大卡盘进行了优化

　　带分析探测器和低温控制器的集成解决方案

　　4200A-SCS参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336低温控制器。

　　特点

　　“点击”测试定序

　　“手动”探测器模式测试探测器功能

　　假探测器模式无需移除命令即可实现调试

　　降低成本并保护您的投资

　　吉时利保障计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。只需点击一下或拨打一个电话即可获得维修服务，在此过程中，无需报价或填写采购单，也不会有审批延误。