热发射显微镜(Thermal EMMI)系统是通过接收故障点产生的热辐射异常来定位故障点位置，当被测物体高于绝对零度时，会不断向外辐射电磁波，系统利用红外探测器和光学成像物镜接受被测目标的红外辐射能量分布图形，并将其反映到红外探测器的光敏元件上，从而获得红外热像图。这种热像图与物体表面的热分布场相对应，从而实现对故障点的精确定位。

　　我们自主研发的Thermal EMMI系统，集成了多项高端技术组件，包括高灵敏度的红外相机、多种倍率可选的显微镜镜头以及精确的高低压源表等。这些组件共同赋予了该系统超凡的灵敏度、高精度的温度测量能力以及无损故障定位的特性。在半导体芯片、先进封装技术、功率电子器件以及印刷电路板(PCB)等领域的失效分析过程中，Therma EMMI系统发挥着举足轻重的作用，它不仅能够快速准确地定位故障点，还能有效提升产品质量和可靠性，是电子工业中不可或缺的精密检测工具。