系统概述:

　　SP26D系列是新锐中科公司结合泰克的产品特点和优势，开发出的满足IEC60747-8/9、JESD2标准的半导体动态参数分析系统。旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场景所遇到的困难。特别对于第三代半导体的测试，LET2000D有着较高的系统带宽和测试精度，可以有效准确的测量出实际的器件参数。

　　系统组成:

　　新锐中科动态参数分析仪，主要包括PC、示波器、低压源、高压直流源、探头以及相关测试配件等构成。SP26D半导体测试系统采用12bit示波器，可正确反应波形细节和参数的准确计算，且具备高带宽的电压和电流探测特点，能满足SiC/GaN的测量要求，同时可以满足上/下管测试要求，可避免频繁连接探头。该系统测量参数齐全，且支持多种器件类型。